多排探测器系列：高效精准，赋能货物智能检测
X-Scan F
高分辨率X射线线性阵列探测器，专为原材料精准分选与高效质量控制而设计。
通过双能量和优化的传感器实现高效材料区分。
通过快速响应的高灵敏度闪烁体材料实现精确的物体检测。
由单独控制器单元构成的增强型多视图系统。
模块化，易于扩展。
针对应用场景优化的探测器结构。
可通过像素合并功能平衡分辨率和对比度。
多种探测器长度。
可使用单个单元检查大型物体。
扫描速度快，带速可达8m/s。
探测器单元和系统计算机之间强大的数据传输和快速同步。
增强型诊断功能。
主要特点
- 单能和双能探测器可选
- X射线能量范围：40-225 kVp
- 像素间距从0.4到1.5mm
- 有效区域长度：从307到1638 mm
- 动态范围>16 000:1
- 千兆以太网接口
- 诊断功能
- 基于 DT X-View2 软件和适用于 Windows 和 Linux 的开发套件的简单软件设计
应用
- 农业
- 食品行业
- 林业
- 工业过程控制
- 采矿业
- 制药业
- 回收和垃圾分类
X-Scan F系列是高分辨率X射线线性阵列探测器产品，专为精确、快速的质量检测以及原材料的分级和分类而设计。X-Scan F系列可大幅减少材料与成本损耗，并缩短生产时间，尤其是在回收、采矿、锯木厂和食品加工行业。
X-Scan F具有双能量成像功能和优化的传感器，实现高精度材料区分。该系列配备单个控制器单元，支持增强的多视图系统。该系列采用快速响应的高灵敏度闪烁体材料，可提供高精度物体检测。嵌入在线性阵列探测器中的像素合并功能还可以平衡X射线图像的分辨率和对比度。
即插即用型X-Scan F系列采用模块化平台，可轻松扩展至各种系统配置。还提供多种不同长度的探测器，可使用单线探测器检查大型物体。X-Scan F系列基于新一代数字平台，扫描速度较之前产品提高两倍以上，探测器与系统计算机之间的数据同步速度更快。该系列具有千兆以太网接口和增强的诊断功能。
