多排探测器系列：高效精准，赋能货物智能检测
X-Scan U
提升成像质量、提高扫描速度并降低工业无损检测系统的整体成本。
高性能成像质量，满足严苛检测标准。
稳健的低噪声数字信号。
探测器一致性能优异。
高信噪比（SNR）。
高抗辐射性能，有效延长探测器寿命。
高可靠性设计。
有效降低X射线系统全生命周期成本。
基于新型数字化平台开发的X-Scan U系列探测器专为轮胎高速在线/离线无损检测（NDT）优化，可提升成像质量、提高扫描速度并降低系统总成本。该系列采用全景X射线源技术，通过增强型U型探测器设计，为轮胎胎圈检测提供高精度高效率的解决方案。
通过低噪声数字信号处理、像素优异的一致性及高信噪比，实现成像质量的大幅提升。搭载远程固件升级与诊断功能，结合高抗辐射性能（有效延长寿命）和优异的可靠性，大幅提升生产效率并优化系统长期运维成本。
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主要特点
- X射线源能量范围：30kVp–160 kVp
- 有效长度从1382mm到3379mm
- 像素间距：0.4m和0.8mm（具备像素合并功能）
- 最小积分时间0.29 ms
- 16位AD，动态范围> 4000:1
- 远程固件升级
- 覆盖15-17英寸和20-35英寸的轮胎胎圈尺寸
- 基于DT的软件开发套件轻松进行软件设计
- 符合CE标准
- GigE接口
