多排探测器系列：高效精准，赋能货物智能检测
模块化且易于扩展，基于TDI平台打造。
专门适用于严苛的工业环境。
低剂量、高灵敏度。
降低X射线系统功耗。
增加X射线探测器寿命。
有效减少屏蔽。
提高图像清晰度。
增强对比度分辨率。
最高扫描速度可达180 m/min。
坚固的机械结构和可靠的工业连接。
双向扫描操作。
主要特点
- 单能量
- X射线能量范围20kV–120 kV
- 像素间距0.4 mm
- 有效区域长度从307mm到820mm
- 动态范围通常为4500@25℃
- 千兆以太网接口
- 诊断功能
- 使用适用于Windows和Linux的X-View2软件和开发套件轻松进行系统集成
应用
- 食品行业
- 工业过程控制
- 回收和垃圾分类
X-Scan T系列探测器是基于TDI（时间延迟积分）技术研发的X射线线阵探测器系列，专门适用于严苛的工业环境。X-Scan T是食品行业的理想解决方案，适应食品行业要求的快速作业、精确的材料识别和生产线上严苛的低功耗要求。例如，X-Scan T非常适合高速瓶装和罐装生产线的质量检测以及肉类和海鲜加工过程中的异物检测，同时还适用于新能源行业。
X-Scan T具有高灵敏度和低X射线剂量特点。因此，图像质量可满足工业应用的严格要求，同时可降低X射线系统功耗，增加探测器在X射线下的使用寿命。此外，低剂量操作模式可在效减少X射线系统的屏蔽，从而节省总成本并简化系统设计。扫描速度快，凭借高速读出电路和像素尺寸的优势，该系列以业内极高的扫描速度运行：高达180 m/min。
产品采用TDI技术，具有高灵敏度性能和高对比度分辨率。基于光电二极管的传感器、高灵敏度的闪烁体以及像素化的信号处理链进一步提高了探测器的成像性能。
基于模块化且易于扩展的平台轻松构建适用于各种系统配置的解决方案。X-Scan T01系列配备内置控制单元、嵌入式 TDI 算法和其他数据处理功能，是真正的即插即用型探测器。
