X-Scan H系列

易于扩展的数字端到端解决方案为NDT应用提供卓越的图像质量。

X-Scan H01系列线性探测器阵列(LDA)通过优化的光电二极管和电子设计,以及精心的材料选择,提供卓越的图像质量。高吸收闪烁体材料和完美匹配的光电二极管,以及读出电子元件可以实现出色的X射线灵敏度。 X-Scan H通过均匀和线性的X射线响应提供低环伪影,并且宽动态范围超过16,000:1。此外,最小化的像素到像素串扰和独特的像素分离设计有效地消除了散射效应

该数字端到端解决方案建立在一个经过验证的概念上,可以轻松集成,加快X射线系统的开发时间。 X-Scan H系列具有较高的辐射硬度,延长了探测器使用寿命,降低了总成本。该系列有几种标准长度可轻松扩展到各种配置。

即插即用型系列采用0.2和0.4毫米像素间距,具有千兆以太网接口和增强的诊断功能。 X-View2软件开发套件可以轻松安装和集成。 X-Scan H系列专为航空航天、汽车、国防、采矿、石油和天然气等行业的CT,NDT和DR成像解决方案而设计。

+优点
  • 最佳的图像质量
    • 匹配光电二极管和读出电子元件的高吸收闪烁体材料,具有出色的X射线灵敏度
    • 均匀和线性X射线响应的低环形伪影,以及宽动态范围
    • 采用独特的像素分离设计,实现低像素到像素的串扰,消除散射效应
  • 端对端检测器解决方案建立在经过验证的基础之上
  • 基于数字平台
  • 辐射硬度高,可实现增长检测器使用寿命,降低总成本
  • 易于扩展,标准长度可用于各种配置
+特点
  • X射线源能量范围:225 – 800kVp
  • 可选像素大小:0.2 mm 和 0.4 mm
  • 动态范围: > 16000
  • 闪烁体材料像素化CdWO4
  • 千兆以太网接口
  • 诊断功能
  • 基于DT X-View2软件和开发套件,易于软件设计

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