X-Scan F系列

高分辨率 X 射线线阵探测器,用于进行准确而快速的质量检测和原材料分级与分类。

X-Scan F系列是高分辨率X射线线阵探测器的产品系列,专为准确快节奏的质量检测,原材料的分级和分选而设计。 X-Scan F系列可极大限度地减少材料和金钱的浪费,并减少检测时间,特别是在回收、采矿、木材和食品加工行业等。

X-Scan F系列借助双能量成像功能和优化传感器,具备了卓越的材料分离能力。该系列带有一个单控制器单元,能够为增强多视图系统提供支持。其采用了极其快速和敏感的闪烁体材料,实现了准确的对象检测功能。这些线性阵列探测器中嵌入了像素合并功能,实现了 X 射线图像的分辨率和对比度之间的平衡。

X-Scan F 系列为即插即用型产品,是在模块化的平台上建立的,因此它很容易扩展到不同的系统配置。我们提供多种长度的探测器,因此用一台设备即可检查大型物体。X-Scan F 系列以一个新一代数字化平台为基础,将扫描速度提高了一倍多,实现了探测器单元和系统计算机之间的快速数据同步。该系列拥有千兆以太网接口和增强诊断功能。

+优点
  • 通过双能量和优化传感器实现的高效材料分离
  • 通过极快和敏感的闪烁体材料进行的精确物体检测
  • 单控制器单元支持下的增强多视图系统
  • 易于扩展的模块化设计
  • 适应目标应用的优化检测器结构
  • 通过像素合并功能实现的分辨率和对比度的平衡
  • 多种检测器长度,可以使用一个单元完成对大型物体的检查
  • 扫描速度快,带速最高可达 8 米/秒
  • 检测器单元与系统计算机之间的稳定数据传输和快速同步
  • 增强诊断功能
+特点
  • 可选单、双能量型号
  • X 射线能量范围:40-225 kVp
  • 像素间距从 0.4 到 1.5 毫米
  • 活动区域长度:307、512、614、922、1 229、1 638 毫米
  • 动态范围 >16 000:1
  • 千兆以太网接口
  • 诊断功能
  • 基于DT X-View2软件和开发套件的简易软件设计

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