X-Card ME3

多能X射线探测器板提供先进的材料鉴别能力的技术。

X-Card ME3是一款独立式多能量探测器板,专为线阵X射线成像系统而设计。它可以用于各种安全和工业应用领域,这些应用领域需要先进的材料辨别能力,同时要求其架构比多视图和CT系统更具成本效益。例如,这是一种满足EDS CBS C2标准要求的理想解决方案,可以将笔记本电脑和其他个人电子产品留在手提行李中而无需取出。

X-Card ME3提供最多128个能量级,即使对于具有相似原子成分的材料,也能实现极其精确的辨别。这可以改进对所有固体和液体材料的识别,降低误报率,加快安全检查点的旅客吞吐速度,还可以在生产线中提供更准确的物料流分析。其能量段易于配置,以优化分析算法的能谱信息。

X-Card ME3配有精心选择的室温工作直接转换半导体材料,以及独特的数字信号处理链。该产品提供了高性能光谱单光子计数功能,可实现准确的材料辨别。

X-Card ME3基于模块化且易于扩展的平台。将多个这种光子计数探测器和读出电路组合起来,可以构建完整的、针对应用优化的探测器子系统,从而实现实时光子计数和精确光子能量测量。探测器板包含一个10厘米长的128像素阵列,间距为800µm,可以以菊花链方式连接组成多种不同的系统配置。

+优点
  • 即使对于具有相似原子成分的材料,也有极其精确的辨别能力
    • 改进对所有固体和液体材料的识别
    • 降低误报率
    • 加快安全检查点的旅客吞吐速度
    • 使生产线中的物料流分析更加准确
  • 其能量段易于配置,以优化分析算法的能谱信息
  • 改进的空间分辨率增强了安检系统中的形状识别
  • 补偿半导体晶体不稳定性,缩短暖机时间
  • 针对安检应用优化的计数率
  • 模块化且易于扩展的平台
  • 可提供所有系统构建模块,包括高速读出电路
  • 可用于最常见的X射线行扫描应用
++特点
  • 碲化镉半导体探测器元件
  • 每个模块128个像素
  • 两种探测器读出模式:1×1或2×1,用于平衡空间分辨率并增强对比度
  • 两种光谱采集模式,从20到160 keV
    • 高能量分辨率 (HER) 模式,适用于16、32、64和128个能量段
    • 能量段模式,用于2到8个可配置能量段
  • 实时数字信号处理,可实现可靠的光谱成像
  • 原始能谱在能量域中校准
  • 菊花链式连接多达30个模块,组成一个300厘米直线型探测器阵列,带有一个X-IM ME3接口模块
  • 提供诊断模式用于系统配置和监控
  • 热漂移补偿
  • 耐湿度和温度变化
  • 提供软件工具包,可用于支持轻松集成
    • Windows或Linux兼容的API(应用程序编程接口)
    • 测试工具
    • SDK(软件开发工具包)

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